由于功率器件長期暴露在高溫狀態下，會導致效率低下和可靠性問題，所以提高其散熱性、可靠性是非常必要的。而“基板”是影響功率半導體散熱的重要部件。
TE100是用于功率半導體中陶瓷基板熱阻測試的系統，可應用于陶瓷基板、封裝焊接材料、界面材料、散熱片等領域。
點擊進入產品中心：熱阻測試儀TE100
· 簡化了功率半導體用陶瓷基板的熱阻測試
· 熱阻測試方式的國際標準化（ISO4825-1:2023-01）
· 通過自研SiC芯片模擬功率器件的發熱
· TEG芯片使用鉑金探頭，確保了溫度測量結果的精準與穩定
· 單個基板材料以及模塊結構的熱阻都能夠測量
標準配置分析系統（軟件）
· 簡單的操作畫面，由“設置/測量/結果/幫助”構成。
· 集中管理TEG芯片的加熱和冷卻水循環裝置CFA312C的冷卻。
參數規格
· 主機
* 不包括顯示器、鍵盤、鼠標
· TEG芯片
· 冷卻水循環裝置（外部密閉系循環）
